• 適用於航空航天產品（pǐn）、信息電子儀器儀表、材料、電工（gōng）、電子產（chǎn）品、各種電子元器件，在（zài）高溫、低溫或（huò）濕熱環境下的各項性能指標的檢驗。試驗（yàn）數據可通過U盤（pán）拷貝，電（diàn）腦無（wú）需安裝任

  

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• 適用（yòng）於航空（kōng）航天產品（pǐn）、信息電子儀（yí）器儀表、材（cái）料、電工、電（diàn）子產品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環境下的（de）各項性（xìng）能指標的檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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